非接觸式掃描儀

產品名稱

Vantage

產品說明

   
  • 雷射非接觸式量測,乾濕產品皆可量測。
  • 可設定多點自動量測,提供分析結果。
  • 2D / 3D非接觸式掃描系統可量測
    • 可量測

    • ※ 2D (y,z or x,z)
    • ※ 3D (x,y,z)
    • ※ Height
    • ※ Height (Avg)
    • ※ Length
    • ※ Angle
    • ※ Angle (Planar)
    • ※ Center
    • ※ Roughness
    • ※ Radius (Avg, Max, RMS, Rz)
  • 適用於厚膜印刷,混成電路(Hybrid Circuit),SMT印刷錫膏, uBGA, TAB, CSP, Flip/Chip, 8 Wafer Warpage 之厚度量測

應用領域 : 半導體產業封裝與測試,光電產業,PCBs製程,SMT產業 , 混成電路 , 被動元件

產品規格

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